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新材料事業
Advansic/半導体製造装置用部品
高純度SiCスパッタリングターゲット
DC(直流)方式による高速SiC成膜が可能です。
特徴
- DC(直流)方式による高速SiC成膜が可能(RFスパッタリング方式の2倍の成膜速度)
- 均質、緻密な膜が得られ易い
- ダストやパーティクルの発生が少ない
- 大出力スパッタが可能
特性
※表は横にスライドしてご覧いただけます。
グレード | SSC | CSI | |||
コード番号 | S312 | S314 | S511 | S452 | S202 |
---|---|---|---|---|---|
結晶型 | β-SiC | β-SiC | β-SiC* | α-SiC | β-SiC,C |
密度 kg/m3×103 | 3.19 | 3.18 | 3.18 | 3.20 | 2.50 |
4点曲げ強度 Mpa(室温) | 520 | 650 | 470 | 490 | 160 |
ビッカース硬度 | 2700 | 2270 | 2250 | 2700 | - |
ヤング率 Gpa | 420 | 420 | 410 | 430 | - |
線熱膨張係数 ×10-6(1073K) | 4.0 | 4.9 | 4.9 | 4.8 | - |
熱伝導率 W/m・K(室温) | 194 | 190 | 190 | 247 | 60 |
比抵抗 Ω・m×10-2(室温) | 0.01 | 0.006 | 0.03 | 130 | 0.005 |
材料グレード・成膜用途例
SSCグレード(SiC成膜): 耐摩耗性、耐食性、高屈折率、高密着コーティング
CSIグレード(SiC + カーボン成膜) : 耐摩耗性、低摩擦、高密着コーティング
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