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新材料事業
Advansic/半導体製造装置用部品
高性能静電チャック
高純度材料を使用し、金属汚染が少なく長寿命です。アルミナ製静電チャックに比べて、熱伝導性に優れております。
特徴
- 広温度域に対応出来ます。(室温~200℃)
- 吸着・離脱特性に優れています。(2秒以内)
- 表面状態が優れています。(Ra<0.01μm)
- 吸着表面の金属汚染及びパーティクル量が低減できます。
(<1010 atoms・cm-2 )(↑0.21μm<500/8inch-wafer) - フロン系、酸素系プラズマの耐性に優れています。
- 長寿命
※表は横にスライドしてご覧いただけます。
Items | ||
Purity (Except Al Si) | 4N | |
Contamination to Sillion Wafer | atoms/cm-2 | <1010 |
Particles on Sillicon Wafer | Counts/8inch | <500 |
Chucking Force (Without dot) | gf/cm2 | >2500 |
Chucking/Dechucking Time | sec | <2 |
Seal of Back Side Gas (5kPa) | sccm | <0.5 |
Thermal Conductivity at R.T.at 200℃ | W/mk | 30 22 |
Flatness of Chucking Surface | μm | 2 |
Surface Roughness | μm | 0.01 |
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